单光子探测器的探测效率标定系统

  • 产品型号:DSR600-PDE
  • 产品时间:2025-02-10
  • 简要描述:单光子探测器的探测效率标定系统,测量光子探测器的光谱响应范围、PDE峰值波长、PDE峰值等关键信息。
  • 产品介绍

单光子探测器的探测效率标定系统介绍

本系统主要用来测试和评估具有单光子灵敏度的光子计数器/ 探测器的光子探测效率(Photon Detection Efficiency,PDE)。本系统的原理是,稳恒宽带光源经过单色仪分光后输出的单色光进入积分球,积分球将光匀化后通过两个出口分别照射至大光敏面积的标准(定标后的)探测器和待测光子计数器。通过标准探测器定标出入射光功率,并换算出单位时间内照射至标准探测器的光子数,再根据标准探测器与待测光子计数器的面积比例,推算出照射到待测光子探测器光敏区的光子数。同时测量单位时间内待测探测器探测到的光子数(即电脉冲的数量),除以照射到待测光子探测器的光子数,即为PDE。通过改变单色仪的输出波长,即可测量不同波长下光子探测器的PDE,进而画出PDE 随波长的变化曲线。 通过PDE 随波长的变化曲线,可以获得待测光子探测器的光谱响应范围、PDE 峰值波长、PDE 峰值等关键信息。

单光子探测器的探测效率标定系统

适用范围:

■ 盖革雪崩光电二极管(G-APD);

■ 单光子雪崩光电二极管(SPAD);

■ 光子计数模式的高增益PMT;

■ 硅光电倍增管(SiPM);

■ 多像素光子计数器(MPPC);

■ 超导单光子探测器。

系统功能 :

■ 全光谱光子探测效率(Photon Detection Efficiency,PDE)

■ 全光谱光谱响应度(Spectral Responsivity,SR)

■ 全光谱外量子效率(External Quantum Efficiency,EQE)

单光子探测器的探测效率标定系统

产品特点:

■ 以相对较低的成本,实现待测光子探测器的PDE的快速标定或评估。

■ 通过切换光源,可以实现不同波段灵敏的光子探测器/光子计数器的PDE的标定。

配置参数:更多配置说明咨询销售

宽带复色光源

可选波长:300-1100nm,可以扩展到2500nm

数据采集模块

(或带触发频率计数功能的数字示波器)

时间分辨率:4ns/2ns/1.14ns/800ps/400ps可选

通道:2/4通道可选

采样率:2.5 GS/s

记录长度:10M

输入阻抗:1MΩ,50Ω

标准探测器

硅探测器:300nm-1100nm,附标定证书;

铟镓砷探测器:900nm-1700nm(或者2500nm),附标定证书;

精密源表

高精度源表,电流量程:10nA-1A,电流分辨率100fA,电压源范围0-200V;

可编程稳压电源

双通道0-32V,1mv分辨率。

应用测量结果

左图为使用本测试系统测得的某典型SiPM 的PDE 随波长变化的曲线。图中黑色点线、红色虚线、蓝色实线分别表示在给SiPM 施加的过偏压分别为2 伏,3 伏,4 伏时,SiPM 的PDE 随光波长变化的曲线。从图中可以看出,该SiPM 的波长响应范围约为350-900 nm,PDE 的峰值波长约为470nm。随着过偏压的升高,PDE 明显上升,过偏压为4V 时,峰值PDE 达到约14%,但峰位基本不发生变化(保持470 nm 不变)。

单光子探测器的探测效率标定系统

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